Carga Horária: 60

Créditos: 4

Obrigatória: Obrigatória

Conceitos básicos: Superfícies, Ultra-alto vácuo (UHV), Interação de elétrons de baixa energia com a matéria; Instrumentação para UHV e espectroscopia de elétrons; Espectroscopia de Elétrons: princípios, Espectroscopia de Elétrons Auger (AES), Espectroscopia de Fotoelétrons Excitados por Raios-X (XPS); Estrutura de Superfícies: Introdução, Difração de Elétrons (LEED/RHEED); Fotoemissão com radiação síncroton; Espectroscopia de Estrura Fina de Absorção de Raios-X em Superfícies (SEXAFS); Microscopia de Tunelamento (STM); Aplicações de análise de superfícies: estudo de alguns casos-exemplos e aulas práticas de XPS e AES.