Carga Horária: 60

Créditos: 4

Obrigatória: Eletiva

Técnicas de caracterização estrutural, morfológica, química, mecânica e espectroscópicas de materiais: difração de raios X, fluorescência de raios X, microscopia ótica, microscopia eletrônica de varredura e transmissão, microscopia de força atômica, espectroscopia Mössbauer, espectroscopia Raman, infravermelho, ensaios mecânicos, analises térmicas, espectroscopia de fotoelétrons excitados por raios X (XPS) e espectroscopia de elétrons Auger (AES).

Artigos e artigos de revisão publicados em periódicos internacionais Elements of X-Ray Diffraction, Cullity B. D., Stock, S. R., Prentice Hall, 3rd ed. 2001 David Brandon and Wayne D. Kaplan, ”Microstructural Characterization of Materials”- John Wiley & Sons, New York, 1999. Metallography and Microstructures - Metals Handbook, V.9, 9a ed., 1985, Metals, Ohio, 1.995. Van der Voort G.F., “Metallography, Principles and Practice”, McGraw-Hill, New York, 1984. Bousfield B., “Surface Preparation and Microscopy of Material”, John Wiley & Sons, New York, 1992. Goldstein J.I., Newbury D.E., Echlin P ., Joy D.C., Fiori G., Lifshin G. Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, Plenum Press, New York, 1992. Goldstein J .I., Yakowitz H, “Practical Scanning Electron Microscopy and Ion Micropobe” Analysis, Plenurn Press, New York, 1.984. SPEYER, R. F., “ Thermal Analysis of Material”, Marcel Dekker Inc., 1994. HATAKEYAMA, T. & LIU, Z. Handbook of Thermal Analysis, JohnWiley & Sons, Chichester, 1998. Briggs D., Seah M. P., “Practical surface analysis – Auger and X-ray Photoelectron spectroscopy”, J, Wiley & Sons Ldt. Chichester 1990