Carga Horária: 30

Créditos: 2

Obrigatória: Obrigatória

Introdução à Microscopia de Varredura por Sonda: Aspectos conceituais; Microscopia de Varredura por Tunelamento (STM): Efeito de tunelamento quântico, Aspectos conceituais, Instrumentação, Aulas experimentais; Microscopia de Força Atômica (AFM): Aspectos conceituais, Modos de operação, Instrumentação, Aulas experimentais; Outras técnicas SPM: Microscopia de Forca elétrica (EFM), Microscopia de Força Magnética (MFM), Microscopia Ótica de Campo Próximo (SNOM); Nanolitografia e Nanomanipulaçao por SPM.